● 以下关于缺陷探测率(DDP)的表述,不正确的是(67) 。
(67)
A.DDP 是一个衡量测试工作效率的软件质量成本指标
B.缺陷探测率越高,也就是测试者发现的错误越多,发布后客户发现的错误才可能越少
C.DDP是衡量测试投资回报的一个重要指标
D.测试周期越长,缺陷探测率就会越高
试题四 论软件可靠性设计与应用
目前在企业中,以软件为核心的产品得到了广泛的应用。随着系统中软件部分比例的不断增加,使得系统对软件的依赖性越来越强,对软件的可靠性要求也越来越高。软件可靠性与其它质量属性一样,是衡量软件架构的重要指标。 软件工程中已有很多比较成熟的设计技术,如结构化设计、模块化设计、自顶向下设计等,这些技术为保障软件的整体质量发挥了重要作用。在此基础上,为了进一步提高软件的可靠性,通常会采用一些特殊的设计技术,即软件可靠性设计技术。 在软件可靠性工程体系中,包含有可靠性模型与预测、可靠性设计和可靠性测试方法等。实践证明,保障软件可靠性最有效、最经济、最重要的手段是在软件设计阶段采取措施进行可靠性控制。
请围绕“软件可靠性设计与应用”论题,依次从以下三个方面进行论述。
1.概要叙述你参与实施的软件开发项目以及你所承担的主要工作。
2.简要叙述影响软件可靠性的因素有哪些。
3.阐述常用的软件可靠性设计技术以及你如何应用到实际项目中,效果如何。
集成电路制造技术是嵌入式系统发展的重要基础,下面关于集成电路技术发展的叙述中,错误的是:()。
A.目前已经可以将数字电路、模拟电路和射频电路等集成在同一芯片上
B.当前最复杂的CPU芯片所集成的晶体管数目已多达10亿个
C.当前速度最快的CPU芯片时钟频率已经高达10GHz
D.微机电系统(MEMS)在芯片上融合了光﹑机﹑电等多种不同类型的构件